電子分析天平測定欲知的是物體的『質量』，但是質量無法直接測知，電子天平測知的是『重量（地球對物體的引力=重力）』，然后再由重量換算成質量進行顯示。質量與重量的比例關系是取決于測定場所的重力加速度。將已知道準確質量的校準砝碼放到電子天平上，這時測知的重力相當于它的質量，若作為重力與質量的比例關系式進行存儲，則在以后的每次測定物體時可由這個重量計算質量并進行顯示。這個作業被認作為校準（Span calibration）。

——導語

靈敏度再校準必要性

例如：

京都和東京的重力加速度分別為979.70775cm/S2和979.76319cm/s2，相差為0.0057%程度，在京都執行校準（Span calibration）后的電子天平移動到東京時，若測定100.0000g整的質量的物體，則成為100.0057g，產生兩位的誤差，所以使用前請務必在設置場所進行校準（Span calibration）。

另外：

電子分析天平，在重量檢測的結構上使用永久磁石和線圈，永久磁石，即使經過校正，溫度每變化1℃也會產生達±2ppm（百萬分之2）的靈敏度變化。這意味著，若測定100克的物體時，就產生相當于±0.2mg的誤差。因此有可能產生電子分析天平的最后位的數字達2程度的偏差。若天平執行校準后溫度變化5℃時，100.0000g的物體，在+側最大可達100.0010g。為此，請在溫度變化時為測定準確起見，務必進行校準。

提示：

執行校準時，必須使天平處于十分穩定的狀態。為此，島津萬分之一分析天平要求待機通電1小時以上，待天平穩定后可進行校準操作。使用十萬分之一（最小顯示0.01mg）時，則必須通電4待機小時以上。靈敏度校準必須在正確安裝和充分預熱后再進行。另外，執行校準時在稱量盤上不能放測定物，必須在人出入少，沒有風和振動的狀態下執行校準操作（Span calibration）。

靈敏度再校準操作

具有內校準功能的電子分析天平，天平內藏電機驅動校準砝碼，不必保管外部校準用砝碼和自行裝取砝碼，只需簡單的按鍵操作即可進行校準。如島津AUW-D/AUW/AUX系列天平，空載狀態下，按天平上的CAL鍵，當天平顯示iCAL時，按O/T鍵執行校準。

伴隨機內砝碼的電機升降，天平依次顯示CAL2→CAL1→CAL0，此過程為天平自動進行校準，無需再進行其他操作。

當屏幕顯示CAL END，隨后會自動跳轉至稱量界面，至此內砝碼校準執行完畢，可以開始稱量實驗。

對于無內校準功能的電子分析天平，需使用外部的校準砝碼進行天平校準工作。

為使電子分析天平準確地進行質量測定，在以下情況下需要進行校準（Span calibration）。

■ 變更設置場所時（即使在同一房間內移動也須進行校準） ；

■ 室溫變化時 ；

■在每次使用前，最好先執行校準（Span calibration）。