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賽默飛X射線衍射熒光技術交流會圓滿成功

時間:2024-06-28 12:12來源:金利儀器 作者:金利儀器 點擊:
2024年 06 月 21 日,賽默飛世爾科技在廣州成功舉辦了X 射線衍射儀新品發布及 X 射線衍射熒光技術交流會。本次會議以極致探索、晶透未來為主題,吸引了來自知名高校、科研院所、政府、領軍企業等 50 多位領導老師蒞臨現場,共同見證賽默飛首款中國制造科研級
  

 2024年 06 月 21 日,賽默飛世爾科技在廣州成功舉辦了“X 射線衍射儀新品發布及 X 射線衍射熒光技術交流會”。本次會議以“極致探索、晶透未來”為主題,吸引了來自知名高校、科研院所、政府、領軍企業等 50 多位領導老師蒞臨現場,共同見證賽默飛首款“中國制造”科研級立式 X 射線衍射儀——ARL EQUINOX Pro 的正式亮相。

 
新品揭幕
 
在新品揭幕環節,中山大學的陳建教授與賽默飛化學分析事業部的俞洋先生共同為ARL EQUINOX Pro揭幕,這一刻,不僅是對賽默飛科技實力的認可,更是對中國科研力量的一次致敬。
 
大會致辭
 
中山大學陳建教授發表了致辭,對賽默飛新品的發布表示祝賀,并對賽默飛在 X 射線衍射技術領域的貢獻給予了高度評價。
 
賽默飛化學分析事業部的俞洋先生介紹了賽默飛的發展歷程和未來規劃,并表示賽默飛將繼續秉承“客戶至上”的理念,為用戶提供更加優質的產品和服務。
 
大會報告
 
報告一:《賽默飛化學分析及材料表征全套解決方案》
 
蔡黎平先生詳細介紹了公司的全套化學分析及材料表征解決方案,展現了賽默飛在化學分析領域的深厚積累和前瞻視野。
 
報告二:《ARL EQUINOX Pro全新X射線衍射儀產品介紹及性能展示》
 
居威材先生深入講解了ARL EQUINOX Pro的技術特點和性能優勢,展示了 ARL EQUINOX Pro 的卓越性能和廣泛應用前景,讓與會者對這款全新X射線衍射儀有了更全面的認識。
 
報告三:《多晶X 射線衍射儀應用性能與功能淺論與展望》
 
王春建教授分享了多晶 X 射線衍射儀的應用性能與功能淺論及展望,包括其能精確測定晶體結構和晶格參數用于材料研究,可進行物相分析及晶體取向和織構分析,未來其精度效率提升,能用于更復雜體系研究且與其他技術結合更緊密,在多領域發揮更大價值。
 
報告四:《X射線衍射在新能源研究中的應用》
 
張少鴻高級工程師分享了 X 射線衍射在新能源研究中的應用,包括其在分析材料結構、研究反應過程、檢測晶體特性等方面的具體應用情況,助力新能源領域的技術發展與創新。
 
報告五:《波長色散X 射線熒光光譜儀的精度測定,國家標準GB42358 解讀》
 
宋武元研究員為與會者解讀了波長色散X射線熒光光譜儀的精度測定及GB42358的國家標準,介紹了該標準的適用范圍、技術要求、試驗方法等,為行業標準的制定提供了權威的聲音。
 
報告六:《X 射線分析技術在無機非金屬材料中的應用》
 
林珊總經理介紹了 X 射線分析技術在無機非金屬材料中的應用。她對 X 射線分析技術在無機非金屬材料中的發展趨勢進行了展望,包括更高的分辨率、更快的測量速度、更廣泛的應用領域等。
 
會議的最后,舉行了贈書儀式,廣東省分析測試協會副會長宋武元研究員為與會嘉賓帶來了他的著作《實用 X 射線光譜分析》,為廣大業界同行提供了一份集大成的珍貴指南。
 
新品儀器特點
 
新型電控測角系統:最新的小型化和分散化電機控制系統,可克服由于驅動電機失步或超步引起的位置誤差,提高測角儀的整體控制精度和重復性
 
先進光子探測技術:前沿PTPC(脈沖觸發實時位置)計數技術,通過同步脈沖觸發探測器的電子門控電路,將測角儀實際到達位置與探測器響應進行同步,實現探測器計數與測角儀位置的精確對應,將角度位置與信號采集精確控制在行業先進級別
 
魔卡免維護設計:光路魔卡設計系統和機械誤差動態補償技術,通過整個光路系統上的組件、光源高低、傾角、狹縫架高低、探測器的魔卡設計,支持用戶在切換光路和樣品臺后無需再次校正,直接使用儀器
 
本次會議的成功舉辦,不僅展示了賽默飛在 X 射線衍射技術領域的領先地位,也為與會嘉賓提供了一個交流和學習的平臺,共同探討了 X 射線衍射及熒光技術的發展方向。賽默飛作為科學分析儀器領導者,將繼續秉承“客戶至上”的理念,不斷推動科技進步和產業發展,為用戶提供更加優質的產品和服務。
 
 
 
(責任編輯:金利儀器lyh)
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