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安東帕新品發布新一代Litesizer DIF

時間:2025-02-13 18:58來源:金利儀器 作者:金利儀器 點擊:
01 Litesizer DIF 激光衍射粒度儀 安東帕的新型激光衍射粒度儀,它建立在近 60 年的專業知識和其前身 PSA 的寶貴經驗之上。Litesizer DIF 提供領航新一代的粒度測量技術,測量范圍從 10 nm 到 3.5 mm。這是一個新時代的開始,擁有一流的光學系統、強大的 10
  

01  Litesizer DIF 激光衍射粒度儀

 
安東帕的新型激光衍射粒度儀,它建立在近 60 年的專業知識和其前身 PSA 的寶貴經驗之上。Litesizer DIF 提供領航新一代的粒度測量技術,測量范圍從 10 nm 到 3.5 mm。這是一個新時代的開始,擁有一流的光學系統、強大的 10 mW 和 25 mW 雙波長激光器,以及領先的 0.01° 到 170° 的寬范圍衍射角檢測器陣列。
 
主要特點
 
尺寸范圍從10nm 到 3.5mm
 
兩個固態激光器,10 年保修
 
市場上最高的激光功率和最寬的角度范圍
 
16kHz 的尖端數據采集率
 
光學系統具有減震和防塵設計,穩定耐用
 
快速連接的分散單元(可與Litesizer DIA互換)
 
Kalliope軟件-直觀的一頁工作流程設計和專用的QC模式
 
行業應用
 
水泥和礦物
 
制藥行業
 
食品飲料
 
化學工業
 
催化劑
 
金屬粉末
 
02  Litesizer DLS 系列動態光散射粒度和 Zeta 電位分析儀
 
全新 Litesizer DLS 系列動態光散射粒度和Zeta電位分析儀器提供世界領先的粒度和 Zeta 電位測量功能。具有業界先進的多角度測量和自動角度選擇功能,更為先進的 MAPS(多角度協同粒度測量)技術,可實現最高的峰值分辨率。連續透射率監測可在測量過程中檢測沉降和團聚,從而提高測量的可靠性。
 
主要特點
 
全功能模式:智能多角度DLS粒度測量、多角度聯合MAPS粒度測量、ELS模式Zeta電位測量、SLS分子量測量、PCON粒子濃度測量、透光率測量、折光率測量
 
測量溫度: 0 到120℃
 
最小樣品量:1.5μLDLS 測量角度:15°、90°、175°三角度
 
粒度測量范圍從 0.3 nm 到 12 µm
 
專利 cmPALS 技術,市場領先的 Zeta 電位分析
 
Kalliape軟件:粒度測量軟件新標桿,簡潔智能,零基礎入門,三次點擊即可獲得專家級測量結果
 
市場上最強大的偏振和熒光濾光片
 
可升級:三角度熒光濾光片和偏振片
 
具備Litesizer DLS101、501、701不同型號,滿足不同需求
 
行業應用
 
制藥和生命科學
 
化學工業
 
重工業和石油
 
食品飲料
 
廢水和造紙
 
半導體和電池
 
 
 
(責任編輯:金利儀器lyh)
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